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多合一光束质量分析仪BeamWave.1500
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光学测试与测量 > 光束质量分析仪
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BeamWave光束质量分析仪以别具一格的光束质量M2测试技术而闻名,具有高分辨率、测量速度快、测量功能全面,无需繁琐导轨等优点。它的通用性强,连续和脉冲光都能测量且脉冲测量自动触发,功能全面,十分适合用于激光分析、眼科仪器、科研级光学精密仪器的表面和波前测量等应用。普通的光束质量分析仪通常使用Shack-Hartmann探测器对波前能量进行测量取样,其具有测量速度慢且分辨率低,测量M2时移动繁琐等缺点。而BeamWave系列光束质量分析仪很好的克服了这些缺点,采用了独特的波前传感技术,CCD探测器和波前探测器只需一次成像就能瞬间采样,得到光束质量(M2)的数据,整个过程无需移动任何导轨部件,且测量速度快、分辨率高。BeamWave革命性的舍去了传统光束质量分析仪的复杂系统,没有笨重的移动部件和多余的附件,单一设备即可实现分析测量M2因子、光束形貌参数、光斑传播参数等所有的激光束参数。
BeamWave系列光束质量分析仪采用的波前传感技术,它的原理是在CCD探测过程中,入射激光光斑会被分成两束激光,一快一慢分别先后的到达两个CCD探测器阵面上,得到两个光束图像。通过对比分析这两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析的出该光束的M2值、发散角、光束位置和其它传播参数。

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